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一种提高离子束反应溅射法制备碳化锗薄膜牢固度的方法

摘要

本发明公开了一种提高离子束反应溅射法制备碳化锗薄膜牢固度的方法,其包括以下步骤:S1:基片清洗;S2:预溅射,将清洗后的基片放入离子束溅射镀膜机内,以Ge作为靶材,CH

著录项

  • 公开/公告号CN106498351A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津津航技术物理研究所;

    申请/专利号CN201610959060.5

  • 申请日2016-11-03

  • 分类号C23C14/34;C23C14/06;

  • 代理机构中国兵器工业集团公司专利中心;

  • 代理人刘东升

  • 地址 300308 天津市东丽区空港经济开发区中环西路58号

  • 入库时间 2023-06-19 01:44:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-05

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C23C14/34 申请公布日:20170315 申请日:20161103

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/34 申请日:20161103

    实质审查的生效

  • 2017-03-15

    公开

    公开

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