一种针对反熔丝FPGA的微探针实时动态测试电路

摘要

本发明属于集成电路领域，涉及一种针对反熔丝FPGA的微探针实时动态测试电路。特别的是通过这种结构形式，不仅辅助了芯片的数字功能实现，而且有效地保证了芯片的生产良率。并且可以使用户在反熔丝FPGA编程结束后的应用阶段实现对芯片内部任意电路节点的侦测，从而判断芯片的功能是否正确。这种动态测试电路结构对芯片资源的占有率很小，并且涉及很少的数字化电路模块，通过借用模拟设计的思想充分简化电路结构、优化电路性能，使其可以正常并且高效地工作。