金属‑陶瓷太阳能选择性吸收涂层多光谱发射率测量方法

摘要

本发明公开了一种金属‑陶瓷太阳能选择性吸收涂层多光谱发射率测量方法，其首先利用涂层结构参数的发射率模型，根据黑体普朗克公式获得光谱辐射亮度的计算值（膜结构参数的函数）；再利用光谱仪实现对涂层的光谱辐射亮度进行测量；建立光谱辐射亮度测量值与计算值的约束方程，采用自适应模拟退火算法获得涂层结构参数的最优解，实现涂层光谱发射率的测量。本发明既可保证发射率测量结果的准确性，还可促进金属‑陶瓷涂层设计的优化和制备工艺的提高，对提高太阳能热发电系统的光热转换效率具有重要的推动意义。