首页> 中国专利> 取样相位差的补偿装置、取样相位差的补偿方法以及可补偿取样相位差的通讯装置

取样相位差的补偿装置、取样相位差的补偿方法以及可补偿取样相位差的通讯装置

摘要

本发明揭露一种取样相位差的补偿装置,包含一信号产生器、一信号分析器以及一补偿器。所述信号产生器用来于一第一时间区间内输出一第一信号至一第一路径,以及用来于一第二时间区间内输出一第二信号至一第二路径,其中该第一与第二时间区间不同,且该第一与第二路径不同。所述信号分析器用来接收来自该第一路径的一传送后第一信号以及来自该第二路径的一传送后第二信号,并对该传送后第一与第二信号施以一预定运算,藉此测定该传送后第一与第二信号之间的相位差关系,其中该相位差关系关联一频率相依相位差与一取样相位差,该传送后第一信号相关于该第一信号,以及该传送后第二信号相关于该第二信号。所述补偿器用来依据该相位差关系执行相位差补偿。

著录项

  • 公开/公告号CN106302272A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 晨星半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN201510361886.7

  • 发明设计人 刘柏宏;杨子颐;蔡腾汉;童泰来;

    申请日2015-06-26

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人徐伟

  • 地址 中国台湾新竹县竹北市台元街26号4楼之1

  • 入库时间 2023-06-19 01:21:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-24

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H04L25/02 申请公布日:20170104 申请日:20150626

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-02-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04L25/02 申请日:20150626

    实质审查的生效

  • 2017-01-04

    公开

    公开

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