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剥离装置及利用该装置剥离芯片封装体表面盖层的方法

摘要

一种剥离装置及利用该装置剥离芯片封装体表面盖层的方法。剥离装置包括:真空吸嘴头,包括具有相对上、下表面的吸盘、贯穿吸盘的上、下表面的真空孔及耦接真空孔和真空泵的中空真空管;平台,位于真空吸嘴头下方且与吸盘对准,使堆叠结构固定于平台上;控制机构,耦接真空吸嘴头,使真空吸嘴头相对于平台被举升或下降;以及第一刀具,包括第一本体及连接第一本体的第一刀刃部。其中盖层被吸盘下表面抵压住并因真孔泵对中空吸管抽真空而被吸附后,第一刀刃部经堆叠结构的第一侧壁切入位于堆叠结构的基底与盖层间的界面层,并通过真空吸取头的吸力及真空吸嘴头被举升所产生的举升力,使得基底与盖层被剥离。

著录项

  • 公开/公告号CN106158691A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 精材科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201510127933.1

  • 发明设计人 何彦仕;刘沧宇;林佳升;张义民;

    申请日2015-03-23

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼

  • 入库时间 2023-06-19 00:59:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/67 申请公布日:20161123 申请日:20150323

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20150323

    实质审查的生效

  • 2016-11-23

    公开

    公开

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