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基于存储系数和渗流系数的低渗储层甜点评价方法

摘要

本发明公开了一种基于存储系数和渗流系数的低渗储层甜点评价方法,包括:根据岩心实测数据与测井数据计算得到岩心孔隙度与渗透率的测井解释模型,然后利用孔隙度、渗透率、地层厚度以及压缩系数计算得到存储系数与渗流系数的双累积百分数,再利用比值法,计算每个测井点的斜率δ值,作出δ曲线,根据预先确立的不同的临界斜率δo值,将δ曲线上对应的测井点划分不同等级的“甜点”。本发明提出的“δ曲线”,是孔渗曲线的综合响应,提出的“δo值”也为动态可变评价标准,简单而非常高效地一次性多标准的实现了低渗致密砂岩储层中单井垂向上的优势“甜点”的划分与定量评价。

著录项

  • 公开/公告号CN106021793A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国地质大学(武汉);

    申请/专利号CN201610383330.2

  • 申请日2016-06-01

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈薇

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号中国地质大学(武汉)地质资源环境工业技术研究院

  • 入库时间 2023-06-19 00:39:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20161012 申请日:20160601

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20160601

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

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