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一种相萃取法中金纳米粒子表面所需正-负离子对的测定方法

摘要

本发明公开了一种相萃取法中金纳米粒子表面所需正‑负离子对的测定方法。本发明先由金纳米粒子表面组装上结合强度高的第一覆盖剂,然后再使用另一种携带负电荷的第二覆盖剂,接着利用携带正电荷的交联剂通过正‑负离子(形成“离子对”)的静电作用将金纳米粒子从水相转移到有机相中,通过分光光度法测定纳米粒子从水相萃取到有机相的程度,并通过变化覆盖剂和交联剂的浓度及比例,确定交联剂最低使用量,从而确定相萃取过程中纳米粒子表面所需正‑负离子对的最小数量。本发明利用简单的分光光度滴定法对其数量实现定量测定,其对纳米技术领域中纳米粒子表面覆盖剂的设计与制备具有重要的指导意义。

著录项

  • 公开/公告号CN106018295A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海应用技术学院;

    申请/专利号CN201610310610.0

  • 申请日2016-05-11

  • 分类号G01N21/31;

  • 代理机构上海精晟知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨军

  • 地址 200235 上海市徐汇区漕宝路120-121号

  • 入库时间 2023-06-19 00:38:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-20

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/31 申请公布日:20161012 申请日:20160511

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-12-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/31 申请日:20160511

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

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