首页> 中国专利> 模拟太空特殊环境的集成电路辐射故障检测系统

模拟太空特殊环境的集成电路辐射故障检测系统

摘要

本发明公开了一种模拟太空特殊环境的集成电路辐射故障检测系统,包括待测集成电路,其特点在于设有辐射源模拟组件、无线发射模块、无线接收模块和上位机,辐射源模拟组件影响待测集成电路,待测集成电路与无线发射模块相连,并将信息发送出去,再由无线接收模块接收并上传给上位机进行结果分析,达到实现远程监控检测的功能,本发明由于采用上述结构和方法,具有模拟效果显著、检测精确、安全无辐射等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN105891700A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学(威海);

    申请/专利号CN201610398486.8

  • 申请日2016-06-07

  • 分类号G01R31/28(20060101);G08C17/02(20060101);

  • 代理机构37202 威海科星专利事务所;

  • 代理人于涛

  • 地址 264200 山东省威海市文化中路2号

  • 入库时间 2023-06-19 00:24:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/28 申请公布日:20160824 申请日:20160607

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-04-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20160607

    实质审查的生效

  • 2016-08-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号