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提高碳化硅晶体生长质量的籽晶处理方法以及用于碳化硅晶体生长的方法

摘要

本发明公开了提高碳化硅晶体生长质量的籽晶处理方法以及用于碳化硅晶体生长的方法。所述提高碳化硅晶体生长质量的籽晶处理方法包括下列步骤:1)在用于碳化硅晶体生长的籽晶的生长面的背面镀上高温薄膜;以及2)将通过步骤(1)得到的镀膜籽晶在高温下退火。所述用于碳化硅晶体生长的方法包括将镀膜籽晶以镀膜面朝向坩埚盖的底部的方式固定在坩埚盖上,并且通过物理气相传输法进行碳化硅晶体生长。根据本发明,通过在用于碳化硅晶体生长的籽晶的生长面的背面镀上一层致密的耐高温薄膜,可以抑制碳化硅晶体生长过程中的背向蒸发,减少平面六方空洞等缺陷,从而提高碳化硅晶体生长质量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C30B23/00 申请公布日:20160720 申请日:20141218

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-09-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B23/00 申请日:20141218

    实质审查的生效

  • 2016-07-20

    公开

    公开

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