一种基于光干涉技术的叶片表面微结构快速测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光干涉技术的叶片表面微结构快速测量方法，采用光学测量方法代替扫描电镜技术获取叶片表面的微观形态特征，并加以定量表征，解决了叶片表面特征无法直接快速获取、定量进行表征的问题，具有快速、简单易行、可以定量分析等优点，可应用于叶片表面微结构快速测量。