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一种基于中值滤波的虹膜图像睫毛干扰检测方法

摘要

本发明公开了一种基于中值滤波的虹膜图像睫毛干扰检测方法,该方法的步骤包括对被检测人员的虹膜区域进行初定位,并将该初定位的虹膜区域进行归一化处理,获得一个固定长度和宽度的矩形虹膜图像S1、对归一化的虹膜图像进行中值滤波处理,并计算出滤波前后的差值图像的绝对值S2和基于自适应阈值算法,设定判断图像中睫毛所需的阈值,并对所述差值图像进行睫毛判断S3。本发明所述技术方案解决了由于睫毛干扰造成的图像检测不准确、耗时较多等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN105404851A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201510697845.5

  • 申请日2015-10-23

  • 分类号G06K9/00(20060101);

  • 代理机构11257 北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人张文祎;赵晓丹

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱408分箱

  • 入库时间 2023-12-18 14:50:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06K9/00 申请公布日:20160316 申请日:20151023

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/00 申请日:20151023

    实质审查的生效

  • 2016-03-16

    公开

    公开

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