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中红外多波长材料折射率的测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种中红外波长材料折射率的测量装置,包括激光二极管、光束整形装置、输入镜、激光晶体、球面高反镜、棱镜对、狭缝、输出耦合镜、法拉第隔离器、半透半反镜、可调光阑、精密旋转台、光谱仪和双通道功率计构成,和一种中红外波长材料折射率的测量方法,实现了待测材料在宽光谱范围内不同中红外波长下折射率的直接测量,解决了目前材料在中红外波长折射率难于测量的问题,同时测量过程简便易行,大大简化了折射率测量过程,降低了测量成本。

著录项

  • 公开/公告号CN102323238B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN201110327127.0

  • 申请日2011-10-25

  • 分类号G01N21/41(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-12-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/41 授权公告日:20121226 终止日期:20151025 申请日:20111025

    专利权的终止

  • 2012-12-26

    授权

    授权

  • 2012-03-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/41 申请日:20111025

    实质审查的生效

  • 2012-01-18

    公开

    公开

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