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短端粒丰度的量度

摘要

本发明提供了用于从具有预定长度范围内的端粒(例如最多为一定长度的短端粒)的样本中的染色体测量端粒丰度的方法和材料。所述方法可以涉及进行被校准以从不超过限定长度的双链染色体DNA模板产生延伸产物的限时延伸反应的第一步骤;和从所述延伸产物扩增以亚端粒序列和锚定序列为边界的序列,以产生限长的端粒序列产物的第二步骤。可以测量这种产物中的端粒序列的丰度,并且可以使所述量度与各种指标相关联。

著录项

  • 公开/公告号CN105283559A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 端粒诊断公司;

    申请/专利号CN201480029826.9

  • 发明设计人 C·哈利;J·林;Y·胡;

    申请日2014-05-22

  • 分类号C12Q1/68(20060101);

  • 代理机构11285 北京北翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙占华;张广育

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-18 13:43:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):C12Q1/68 申请日:20140522

    实质审查的生效

  • 2016-01-27

    公开

    公开

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