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射频SOI-MOS变容管衬底模型及其参数提取方法

摘要

本发明提供一种射频SOI-MOS变容管衬底模型及其参数提取方法,所述模型至少包括:从栅端到源漏端依次串联栅端接引线寄生电感L

著录项

  • 公开/公告号CN105022878A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-11-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海高等研究院;

    申请/专利号CN201510430437.3

  • 发明设计人 刘军;田犁;

    申请日2015-07-21

  • 分类号G06F17/50;

  • 代理机构上海光华专利事务所;

  • 代理人唐棉棉

  • 地址 201210 上海市浦东新区海科路99号

  • 入库时间 2023-12-18 11:38:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-10

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20151104 申请日:20150721

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-12-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20150721

    实质审查的生效

  • 2015-11-04

    公开

    公开

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