紫外线照射装置以及具有该紫外线照射装置的分析装置

摘要

本发明提供一种能够不对测定造成坏影响地避免发光管受到碱性氛围影响的紫外线照射装置以及具有该紫外线照射装置的分析装置。通过在由石英材料形成的发光管(71)的外表面形成第1保护膜(731)，避免发光管(71)受到碱性氛围影响。由于可以通过第1保护膜(731)来阻止对于碱性氛围的石英材料的化学反应，防止石英材料洗脱，因此可以避免发光管(71)受到碱性氛围影响。又，由于使第1保护膜(731)成膜于发光管(71)的外表面，因此可以防止在发光管(71)的外表面和第1保护膜(731)之间产生间隙。因此，不会存在进入到发光管的外表面和第1保护膜之间的间隙的水样混入下一次分析时的水样的情况，能够防止这样的水样的混入对测定造成坏影响。

说明书

技术领域

本发明涉及一种在碱性氛围中使用的紫外线照射装置以及具有该紫外线照射装置的 分析装置。

背景技术

在总氮总磷测定仪等分析装置中，例如可以通过对水样照射紫外线使水样中的成分氧 化，通过测定部对被氧化了的成分的浓度进行测定(例如，参照以下的专利文献1)。紫外 线从低压水银灯等紫外线照射装置被照射至水样。紫外线照射装置中设置有由例如石英玻 璃形成的发光管，在发光管的内部产生的紫外线透过该发光管被照射至外部。

在此种分析装置之中，具有从外部向蓄积了水样的反应槽照射紫外线那样的结构的分 析装置、和将发光管浸渍于反应槽内的水样中以直接照射紫外线那样的结构的分析装置。 采用将发光管浸渍于分析装置反应槽内的水样中的结构的话，可以提高水样中的成分的氧 化效率，但由于发光管与水样直接接触，所以可能会产生发光管劣化等问题。

例如，在氢氧化钠等试药被混入水样中的情况下，由于发光管被浸渍于碱性的水样中， 因此存在由于以下反应式所示的化学反应，而形成发光管的石英玻璃洗脱这样的问题。

SiO₂+2NaOH→Na₂SiO₃+H₂0

因此，有时也存在实施如下对策的情况，即通过将树脂制的套管包覆在发光管的外表 面，保护石英玻璃以避免其接触到碱性的水样。在该情况下，例如可以加热套管使其软化， 在从发光管的顶端侧压入之后使其固化，由此将套管包覆在发光管的外表面。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2002-107352号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，在以上述那样的形态将树脂制的套管包覆在发光管的外表面的情况下，可能会 在套管和发光管的外表面之间产生间隙。在水样进入这样的间隙的情况下，该水样会混入 到下一次分析时的水样中，成为测定误差的原因，因此不是很理想。又，混入到套管和发 光管的外表面的间隙的水样到达发光管的根部，可能会使发光管内的电气元件产生不良情 况。

进一步地，从发光管的内部产生的紫外线有时会使树脂制的套管劣化，产生龟裂。在 该情况下，水样进入所产生的龟裂内，该水样混入到下一次分析时的水样中，因此不仅成 为测定误差的原因，而且还存在与龟裂同时产生的异物对测定造成坏影响的可能性。

不仅是将发光管浸渍在反应槽内的水样中这样的构成需要保护发光管，在例如含有氨 的大气中使用紫外线照射装置的情况下，也需要避免发光管受到碱性氛围影响。在这样的 情况下，如果采用使用树脂制的套管保护发光管这样的构成的话，存在从发光管的内部产 生的紫外线导致套管劣化，对测定造成坏影响的可能性。

本发明正是鉴于上述情况而做出的，其目的在于提供一种不会对测定造成坏影响、且 能够避免发光管受到碱性氛围影响的紫外线照射装置以及具有该紫外线照射装置的分析 装置。

用于解决问题的手段

本发明所涉及的紫外线照射装置，其是在碱性氛围中被使用的紫外线照射装置，其包 括：发光管，所述发光管由石英材料形成的，从内部发出紫外光；以及第1保护膜，所述 第1保护膜被成膜于所述发光管的外表面，避免所述发光管受到碱性氛围影响。

根据这样的结构，可以通过成膜于该发光管的外表面的第1保护膜避免由石英材料形 成的发光管受到碱性氛围影响。即，可以通过第1保护膜阻止对于碱性氛围的石英材料的 化学反应，防止石英材料洗脱。

尤其是，由于使第1保护膜成膜于发光管的外表面，所以可以防止在发光管的外表面 和第1保护膜之间产生间隙。因此，不会存在进入到发光管的外表面和第1保护膜之间的 间隙的水样混入下一次分析时的水样的情况，能够防止这样的水样的混入对测定造成坏影 响。又，如果是以能够透过紫外线的材料来形成第1保护膜的构成，则即使在发光管的外 表面的宽范围形成第1保护膜，也不会对测定造成坏影响。因此，可以不对测定造成坏影 响地避免发光管受到碱性氛围影响。

所述第1保护膜可以由包含类金刚石碳的材料形成。

根据这样的结构，可以采用耐紫外线性以及耐碱性高的类金刚石碳在发光管的外表面 形成第1保护膜。由此，可以有效地防止第1保护膜劣化，因此可以防止由于进入到第1 保护膜的龟裂的水样混入下一次分析时的水样而对测定造成坏影响。

所述第1保护膜可以由包含无机金属或者无机金属化合物的材料形成。

根据这样的结构，可以通过采用无机金属或者无机金属化合物成膜于发光管的外表面 的第1保护膜来保护发光管。如果采用耐紫外线性以及耐碱性高的无机金属或者无机金属 化合物形成第1保护膜的话，可以有效地防止第1保护膜劣化，因此可以防止由于进入到 第1保护膜的龟裂的水样混入下一次分析时的水样而对测定造成坏影响。

所述紫外线照射装置还可以包括第2保护膜，所述第2保护膜形成于所述第1保护膜 的外表面，由与所述第1保护膜不同的材料构成。

根据这样的结构，可以通过被层叠的第1保护膜以及第2保护膜来保护发光管。如果 采用例如耐碱性比第1保护膜高的材料形成第2保护膜的话，可以防止碱性氛围引起的第 1保护膜的劣化，更有效地保护发光管。又，如果以耐紫外线性比第2保护膜高的材料形 成第1保护膜的话，可以防止由紫外线引起的第2保护膜的劣化，更有效地保护发光管。

所述第2保护膜也可以由包含树脂的材料形成。

根据这样的结构，通过采用疏水性高的树脂形成第2保护膜，来有效地避免第1保护 膜受到碱性氛围的影响。例如在通过蒸镀形成第1保护膜的情况下，虽然水样进入第1保 护膜的表面的细小的粒子之间，可能会使第1保护膜劣化，但如果采用树脂在该第1保护 膜上形成第2保护膜的话，就可以有效地避免第1保护膜受到碱性氛围的影响。又，树脂 的耐紫外线性低，但如果采用耐紫外线性高的材料来形成第1保护膜的话，就能有效地避 免采用树脂形成的第2保护膜受到紫外线的影响。

又，所述第1保护膜也可以由包含树脂的材料形成。

根据这样的结构，通过采用树脂成膜于发光管的外表面的第1保护膜，可以对发光管 进行保护。如果采用例如氟树脂等耐碱性高的树脂形成第1保护膜的话，则可以有效地防 止第1保护膜劣化，因此可以防止由于进入到第1保护膜的龟裂的水样混入下一次分析时 的水样而对测定造成坏影响。

本发明所涉及的分析装置包括：所述紫外线照射装置、蓄积有水样的反应槽、以及对 在所述反应槽内被氧化了的水样的成分进行测定的测定部。所述发光管被浸渍在所述反应 槽内的水样中。

根据这样的结构，可以避免被浸渍在反应槽内的水样中的发光管受到水样的影响。即 使在例如试药混合于水样中导致水样变成碱性的情况下，通过被成膜于发光管的外表面的 第1保护膜，也可以避免发光管受到碱性的水样的影响。

所述第1保护膜也可以形成在与所述反应槽内的水样的水位相对应的位置。

根据这样的结构，可以在与水样的水位相对应的位置保护发光管。由于被浸渍于碱性 的水样的发光管尤其容易在与水样的水位相对应的位置洗脱，所以通过在与该水位相对应 的位置形成第1保护膜，可以有效地避免发光管受到碱性的水样的影响。又，通过仅在与 水样的水位相对应的位置形成第1保护膜，可以抑制第1保护膜的材料费，因此可以降低 制造成本。

发明的效果

根据本发明，可以通过第1保护膜来阻止对于碱性氛围的石英材料的化学反应，防止 石英材料洗脱，因此可以避免发光管受到碱性氛围的影响。又，根据本发明，由于可以防 止在发光管的外表面和第1保护膜之间产生间隙，不会存在进入到发光管的外表面和第1 保护膜之间的间隙的水样混入下一次分析时的水样的情况，因此能够防止这样的水样的混 入对测定造成坏影响。

附图说明

图1是示出本发明的一实施形态所涉及的分析装置的构成例的概略图。

图2是紫外线照射装置的概略截面图。

具体实施方式

图1是示出本发明的一实施形态所涉及的分析装置的构成例的概略图。本实施形态所 涉及的分析装置是能够测定水样的总氮浓度(TN浓度)以及总磷浓度(TP浓度)的总氮 总磷测定仪，在图1中仅示出其构成的一部分。

水样是污水、河水或者工厂排水等，包含氮化合物、磷化合物等各种成分。水样中的 氮化合物作为例如硝酸根离子、亚硝酸根离子、铵离子以及有机态氮而存在。在测定水样 的总氮浓度时，是在使水样中的所有氮化合物氧化为硝酸根离子之后，再对其浓度进行测 定。

又，水样中的磷化合物作为例如磷酸根离子、加水分解性磷以及有机态磷而存在。在 测定水样中的总磷浓度时，是在使水样中的所有磷化合物氧化为磷酸根离子之后，再测定 其浓度。

在本实施形态所涉及的分析装置中，具有例如流路切换部1、注射器2、水样供给部3、 试药供给部4、反应槽5、加热器6、紫外线照射装置7、测定部8以及控制部9等。流路 切换部1例如由具有多个端口的多端口阀构成，可以相对于一个共通端口选择性地连通其 他端口的某一个。流路切换部1的各端口间的连通状态可以通过例如电动机Ml的驱动自 动地切换。

注射器2具有例如筒体21以及柱塞22。可以通过使被插入筒体21内的柱塞22位移， 进行向注射器2的吸引动作以及自注射器2的排出动作。柱塞22可以通过例如电动机M2 的驱动自动地进行位移。

在该例子中，流路切换部1的共通端口与注射器2连接。水样供给部3、试药供给部 4、反应槽5以及测定部8等分别连接于流路切换部1的其他多个端口。因此，通过在使 注射器2以及水样供给部3连通的状态下使柱塞22位移，进行向注射器2的吸引动作， 可以将水样供给至注射器2内(筒体21内)。此后，如果使注射器2以及试药供给部4连 通并使柱塞22位移，进行向注射器2的吸引动作的话，可以将试药供给至注射器2内， 使该试药混合于水样中。

注射器2内的水样在被适当地添加了氧化剂等之后，被供给至反应槽5内。具体来说， 通过使注射器2以及反应槽5连通并使柱塞22位移，进行自注射器2的排出动作，可以 将注射器2内的水样供给至反应槽5内。此时，通过对柱塞22的位移量进行控制，可以 对向反应槽5的水样的供给量进行调整。

反应槽5中蓄积有从注射器2供给的水样。在反应槽5的外侧设置有加热器6，可以 通过该加热器6对反应槽5内的水样进行加热。紫外线照射装置7被插入反应槽5内，通 过对蓄积在反应槽5内的水样照射紫外线，使得水样中的氮化合物、磷化合物等各种成分 氧化。

反应槽5内的水样通过注射器2被导入至测定部8。具体来说，通过使注射器2以及 反应槽5连通并使柱塞22位移，进行向注射器2的吸引动作，将反应槽5内的水样导入 注射器2内。此后，通过使注射器2以及测定部8连通并使柱塞22位移，进行自注射器2 的排出动作，可以将注射器2内的水样引导至测定部8。

由此，在反应槽5内被氧化了的水样的成分由测定部8来测定。在测定部8中，例如 通过对照射了水样的光的透射光进行检测，来测定吸光度。可以基于这样测定到的吸光度， 计算出总氮浓度、总磷浓度等水样中的成分的浓度。

控制部9例如是包含CPU(中央处理单元)的构成，对电动机Ml、M2、加热器6以及 紫外线照射装置7等分析装置的各部的动作进行控制，且进行基于来自测定部8的检测信 号的处理。基于由测定部8测定到的吸光度的浓度的运算在控制部9中进行，被算出的浓 度被显示于显示部(未图示)。

图2是紫外线照射装置7的概略截面图。该紫外线照射装置7具有由例如石英玻璃形 成的发光管71，在该发光管71被浸渍于反应槽5内的水样的状态下使用该紫外线照射装 置7。发光管71例如是呈一直线状延伸的细长管体，从内部发出紫外线。

发光管71以在上下方向上延伸的形态从其顶端部711浸渍到水样内，根部712位于 水样的水位L的上方。在发光管71内设置有例如沿长度方向延伸的间隔壁713，由此形成 U字状的内部空间714。在发光管71的根部712，在与U字状的内部空间714的两端部对 应的位置上分别设置有电极72。

本实施形态中的紫外线照射装置7例如是低压水银灯，水银被封入内部空间714内。 在进行分析时，通过在一对电极72之间施加电压，在内部空间714的水银蒸气中产生电 弧放电，随之发出紫外光。

例如在将氢氧化钠等试药从试药供给部4混合至水样的情况下，被蓄积在反应槽5内 的水样变成碱性。在这样的情况下，紫外线照射装置7在碱性氛围(在该例子中，为被浸 渍在碱性的水样中的状态)中被使用。

在发光管71的外表面形成有保护膜73，该保护膜73保护发光管71以避免其处于碱 性氛围。为了保护发光管71以避免其处于碱性氛围，保护膜73由不与碱发生反应、或者 与碱难以反应的材料形成。在本实施形态中，第1保护膜731被成膜于发光管71的外表 面，第2保护膜732被成膜于该第1保护膜731的外表面。

这样，保护膜73优选为层叠有由不同材料构成的多个膜的结构，并不限定于此，例 如可以是仅由第1保护膜731构成的结构。另外，在图2中，为了使说明易于理解，将第 1保护膜731以及第2保护膜732的厚度表示得比实际的厚度要大。

第1保护膜731例如由类金刚石碳(DLC)形成。类金刚石碳是主要由碳氢化合物或 者碳的同素异形体构成的非晶质的硬质碳膜，具有耐紫外线性以及耐碱性高的性质。第1 保护膜731可以通过使类金刚石碳蒸镀于发光管71的外表面而形成。采用类金刚石碳而 形成的第1保护膜731的厚度优选为0.01μm以上，更优选为1μm以上。

在通过蒸镀形成第1保护膜731时，可以采用例如物理蒸镀法(PVD法)。物理蒸镀法 中包含真空蒸镀法、离子电镀法以及溅镀法等各种蒸镀法。但是，并不限定于物理蒸镀法， 也可以通过化学蒸镀法(CVD法)形成第1保护膜731，也可以通过蒸镀以外的方法形成 第1保护膜731。

这样，在本实施形态中，可以采用成膜于由石英玻璃形成的发光管71的外表面的第1 保护膜731来保护发光管71以避免其处于碱性氛围。即，可以采用第1保护膜731来阻 止相对于碱性氛围的石英玻璃的化学反应，防止石英玻璃洗脱。

在该例子中，可以保护被浸渍在反应槽5内的水样中的发光管71以避免其接触水样。 即使在例如将氢氧化钠作为试药从试药供给部4混合至水样中，导致水样变为碱性的情况 下，也可以通过第1保护膜731来阻止以下反应式所示那样的化学反应发生从而造成石英 玻璃洗脱，可以保护发光管71避免其接触碱性的水样。

SiO₂+2NaOH→Na₂SiO₃+H₂0

尤其是，由于使第1保护膜731成膜于发光管71的外表面，所以可防止在发光管71 的外表面和第1保护膜731之间产生间隙。因此，进入到发光管71的外表面和第1保护 膜731的间隙的水样混入到下一次分析时的水样中这样的情况不存在，所以可以防止这样 的水样的混入对测定造成坏影响。又，如果是采用能够透过紫外线的材料来形成第1保护 膜731这样的构成的话，即使在发光管71的外表面的较宽范围(例如外表面整体)里形 成了第1保护膜731，也不会对测定造成坏影响。因此，可以不对测定造成坏影响地避免 发光管71受到碱性氛围的影响。

又，在本实施形态中，可以采用耐紫外线性以及耐碱性高的类金刚石碳，在发光管71 的外表面形成第1保护膜731。由此，可以有效地防止第1保护膜731劣化，因此可以防 止由于进入到第1保护膜731的龟裂中的水样混入下一次分析时的水样中这样的原因而对 测定造成坏影响。但是，第1保护膜731并不限定于仅由类金刚石碳形成的构成，也可以 是采用包含类金刚石碳以外的成分的材料来形成的构成。

第2保护膜732例如由树脂形成。作为树脂，优选为采用氟树脂等耐紫外线性以及耐 碱性高的树脂，但也可以是氟树脂以外的树脂。第2保护膜732可以通过将树脂涂覆于第 1保护膜731的外表面而形成。此时，可以通过将树脂薄薄地涂敷在第1保护膜731的外 表面以形成薄膜等、各种方法来实施涂覆。采用树脂形成的第2保护膜732的厚度优选为 0.01μm以上，更优选为1μm以上。

这样，在本实施形态中，可以通过被层叠的第1保护膜731以及第2保护膜732来保 护发光管71。如果采用例如耐碱性比第1保护膜731高的材料来形成第2保护膜732的话， 可以防止碱性氛围引起的第1保护膜731的劣化，可以对发光管71进行更有效的保护。

在该例子中，通过采用疏水性高的树脂来形成第2保护膜732，可以有效地避免第1 保护膜731受到碱性氛围的影响。在如本实施形态那样通过蒸镀来形成第1保护膜731的 情况下，水样可能进入到第1保护膜731的表面的细小的粒子之间，使第1保护膜731劣 化，但采用树脂在该第1保护膜731上形成第2保护膜732的话，可以有效地避免第1保 护膜731受到碱性氛围的影响。

又，树脂的耐紫外线性低，但由于采用耐紫外线性比第2保护膜732高的类金刚石碳 来形成第1保护膜731，所以可以有效地保护采用树脂形成的第2保护膜732使其免受紫 外线影响。因此，可以防止紫外线引起的第2保护膜732的劣化，更有效地保护发光管71。 但是，第2保护膜732并不限定于仅由树脂形成的构成，也可以是由包含树脂以外的成分 的材料来形成的构成，也可以是由不包含树脂的其他材料来形成的构成。

在本实施形态中，第1保护膜731仅仅形成在发光管71的外表面的一部分上。具体 来说，第1保护膜731不形成在发光管71的顶端部711侧，仅在发光管71根部712侧形 成第1保护膜731。在该例子中，在与反应槽5内的水样的水位L对应的位置形成有第1 保护膜731。

与水位L对应的位置的概念不仅包含与水位L相同高度的部分，还包含该部分的周边 部分。即，在与水位L相同高度的部分、其周边部分形成有第1保护膜731的话，在发光 管71的顶端部711侧的至少一部分可以具有未形成第1保护膜731的部分。

这样，在本实施形态中，通过在与水样的水位L对应的位置形成第1保护膜731，可 以在与水样的水位L对应的位置对发光管71进行保护。由于被浸渍在碱性的水样中的发 光管71特别容易在与水样的水位L对应的位置洗脱，所以通过在与该水位L对应的位置 形成第1保护膜731，可以有效地保护发光管71以避免其与碱性的水样接触。又，通过仅 在与水样的水位L对应的位置形成第1保护膜731，可以抑制第1保护膜731的材料费， 因此可以降低制造成本。

在该例子中，第1保护膜731的整个外表面都被第2保护膜732覆盖。但是，并不限 定于这样的结构，也可以是仅第1保护膜731的外表面的一部分被第2保护膜732覆盖的 构成。在该情况下，优选为，第1保护膜731以及第2保护膜732至少形成在与水样的水 位L对应的位置。

发光管71的根部712被插入外筒74内，在该外筒74内设置有上述的电极72。在本 实施形态中，通过在与外筒74相隔一定间隔的位置形成有第1保护膜731，发光管71的 外表面露出于外筒74和第1保护膜731之间。即，第1保护膜731的上端缘位于水样的 水位L与外筒74的下端缘之间。由此，水样经由第1保护膜731或者第2保护膜732等 到达发光管71的根部712，可以防止发光管71内的电气元件(电极72等)产生不良情况。

在以上的实施形态中，对第1保护膜731由类金刚石碳形成的构成进行了说明。但是 不限定于这样的结构，也可以是由例如无机金属或者无机金属化合物形成第1保护膜731 的构成。在该情况下，可以是如上述实施形态那样在第1保护膜731的外表面形成第2保 护膜732的构成，也可以是未形成有第2保护膜732的构成。

在此，无机金属是指铂或者金等那样的无机金属单质。又，无机金属化合物是指包含 无机金属单质以及其他成分的化合物，可以例示有蓝宝石或者氧化铝等。但是，作为无机 金属或者无机金属化合物，并不限定于上述那样的材料，可以采用耐紫外线性以及耐碱性 高的任意材料。

如果采用耐紫外线性以及耐碱性高的无机金属或者无机金属化合物形成第1保护膜 731的话，可以有效地防止第1保护膜731劣化，因此可以防止由于进入到第1保护膜731 的龟裂的水样混入下一次分析时的水样中这样的原因而对测定造成坏影响。但是，并不限 定于仅由无机金属或者无机金属化合物形成第1保护膜731的构成，也可以是由包含无机 金属或者无机金属化合物以外的成分的材料形成第1保护膜731的构成。

在通过包含无机金属或者无机金属化合物的材料形成第1保护膜731时，与采用类金 刚石碳的情况同样地，可以通过蒸镀来形成第1保护膜731。采用无机金属或者无机金属 化合物形成的第1保护膜731的厚度优选为0.01μm以上，更优选为1μm以上。

又，也可以是由例如树脂形成第1保护膜731的构成。在该情况下，可以为不由上述 实施形态那样的树脂形成第2保护膜732而是采用其他材料形成第2保护膜732的构成， 也可以是仅形成有第1保护膜731的构成。

作为树脂，优选为采用氟树脂等耐紫外线性以及耐碱性高的树脂，但也可以使用氟树 脂以外的树脂。在采用氟树脂等耐碱性高的树脂形成第1保护膜731的情况下，可以有效 地防止第1保护膜731劣化，因此可以防止由于进入第1保护膜731的龟裂的水样混入下 一次分析时的水样这样的原因对测定造成坏影响。但是，并不限定于第1保护膜731仅由 树脂形成的构成，也可以是第1保护膜731由包含树脂以外的成分的材料形成的构成

在通过包含树脂的材料形成第1保护膜731时，与在上述实施形态中形成第2保护膜 732的情况同样地，可以通过涂覆来形成第1保护膜731。采用树脂形成的第1保护膜731 的厚度优选为0.01μm以上，更优选为1μm以上。

在以上的实施形态中，对发光管71由石英玻璃形成的构成进行了说明。但是，发光 管71并不限定于石英玻璃，也可以是由合成石英等包含石英的其他石英材料形成的构成。

又，在以上的实施形态中，对紫外线照射装置7为低压水银灯的情况进行了说明。但 是，紫外线照射装置7并不限定于低压水银灯，可以采用如例如准分子激光器、重氢灯、 氙气灯、Hg-Zn-Pb灯等那样能够照射紫外线的任意光源。

进一步地，在以上的实施形态中，对将发光管71浸渍于反应槽5内的水样并直接照 射紫外线这样的构成进行了说明。但是，不限定于这样的结构，紫外线照射装置7也可以 是从外部对蓄积有水样的反应槽5照射紫外线的构成。

又，也可以是紫外线照射装置7在反应槽5以外被用作光源这样的构成。在该情况下， 紫外线照射装置7也可以是如下的构成：不被使用于水样，而是被使用于例如含有氨的大 气中等那样的水中以外的碱性氛围。

在以上的实施形态中，将总氮总磷测定仪作为分析装置的一例进行了说明。但是，本 发明并不限定于总氮总磷测定仪，也能够适用于总有机碳分析仪等其他分析装置。

符号的说明

1  流路切换部

2  注射器

3  水样供给部

4  试药供给部

5  反应槽

6  加热器

7  紫外线照射装置

8  测定部

9  控制部

21  筒体

22  柱塞

71  发光管

72  电极

73  保护膜

74  外筒

711  顶端部

712  根部

713  间隔壁

714  内部空间

731  第1保护膜

732  第2保护膜

Ml、M2  电动机。