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测量磁性元件损耗的比对量热装置及其测量方法

摘要

本发明涉及一种测量磁性元件损耗的比对量热装置,包括一绝热的测量容器与比对容器,测量容器与比对容器内皆设置有相同的磁性元件、比对电阻、温度传感器及绝缘导热工质,磁性元件、比对电阻及温度传感器皆设置于各自的绝缘导热工质内,测量容器内的磁性元件经第二继电器与一激励源连接,比对容器内的比对电阻经第一继电器与一直流源连接,所述第一继电器、第二继电器及测量容器与比对容器内的温度传感器皆与一单片机的I/O接口连接,所述直流源与所述单片机的AD接口连接,所述单片机的USART接口与一上位机连接。本发明还涉及一种测量磁性元件损耗的比对量热装置的测量方法。本发明实现了磁性元件在任意激励下损耗功率的精确测量。

著录项

  • 公开/公告号CN104914299A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-09-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 福州大学;

    申请/专利号CN201510413972.8

  • 发明设计人 陈为;陈开宝;汪晶慧;

    申请日2015-07-15

  • 分类号

  • 代理机构福州元创专利商标代理有限公司;

  • 代理人蔡学俊

  • 地址 350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城学园路2号福州大学新区

  • 入库时间 2023-12-18 10:50:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R21/02 申请公布日:20150916 申请日:20150715

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-10-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R21/02 申请日:20150715

    实质审查的生效

  • 2015-09-16

    公开

    公开

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