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从版图数据中抽取逻辑部分版图布线密度的方法

摘要

本发明公开了一种从版图数据中抽取逻辑部分版图布线密度的方法,包括:统计逻辑单元种类t,每个种类包含的逻辑单元个数n,测量版图逻辑部分总共占有的面积A;统计出的各种类每个逻辑单元的面积a;计算出逻辑部分版图布线密度。本发明从版图数据中抽取逻辑部分版图布线密度的方法在只有最终版图数据的情况下能准确分析芯片版图的布线密度,利用布线密度能计算出版图面积利用率,分析版图面积缩小的可能。本发明的方法结果准确,操作简单,能节约设计成本,提高设计效率。

著录项

  • 公开/公告号CN104750891A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201310739515.9

  • 发明设计人 梁影;周喆;

    申请日2013-12-27

  • 分类号

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2023-12-18 09:38:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-18

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20150701 申请日:20131227

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-07-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20131227

    实质审查的生效

  • 2015-07-01

    公开

    公开

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