一种用于超大规模芯片仿真的自适应随机验证方法

摘要

本发明公开了一种用于超大规模芯片仿真的自适应随机验证方法，其具体实现过程为：定义用于表示每组激励的属性向量；随机生成若干属性向量，并以这些属性向量作为随机激励生成的参数，生成多组具有对应特征的随机激励序列；将多组随机激励序列进行仿真验证，统计仿真验证中对验证目标的覆盖率；对随机激励序列的覆盖率进行比对；结合多组随机激励序列的效率结果，将各个属性向量进行排序，通过排序后的结果，对属性向量的值进行加权的随机，生成新的属性向量；反复迭代，直到验证结束。该一种用于超大规模芯片仿真的自适应随机验证方法与现有技术相比，在提高了随机验证总体的效率的同时，减少了验证人员需要进行的工作，更有效地利用了资源。