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基于纳米岛衬底制备大高宽比X射线衍射光学元件的方法

摘要

本发明公开了一种基于纳米岛衬底制备大高宽比X射线衍射光学元件的方法,该方法将电子束抗蚀剂固定在纳米岛上,并且镂空硅衬底减小电子束的背散射,以此增强电子束抗蚀剂的抗倒塌能力,并通过电子束直写、显影、电镀和刻蚀电镀种子层,形成大高宽比衍射光学元件。本发明采用薄膜衬底减少电子束背散射和增强抗蚀剂同衬底粘附性相结合的方法,有效增强了抗蚀剂的抗倒塌性能,可以制备出高宽比可以达到10∶1以上的X射线衍射光学元件。这种方法具有稳定可靠,工艺方法易实现,且与传统的光刻工艺兼容的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN102683167A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201110061442.3

  • 申请日2011-03-15

  • 分类号H01L21/02;G03F7/00;G21K1/06;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2023-12-18 08:00:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-03-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/02 申请公布日:20120919 申请日:20110315

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-11-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20110315

    实质审查的生效

  • 2012-09-19

    公开

    公开

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