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不合格原因的分析显示方法及不合格原因的分析显示装置

摘要

计算装置16基于对每个产品累计产品的生产数据和检查数据而得的代表值来对发生不合格的不合格原因进行分析。显示装置17对从分析结果提取出的数据项目,使用利用统计方法的计算,来从成为分析对象的多个代表值之中,选择成为代表值的基础的生产数据和检查数据,并加以显示。

著录项

  • 公开/公告号CN102667831A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-09-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 夏普株式会社;

    申请/专利号CN201080053327.5

  • 发明设计人 清水一寿;

    申请日2010-11-25

  • 分类号G06Q10/04;G06Q50/04;

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人张鑫

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-12-18 06:28:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-03

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06Q10/04 申请公布日:20120912 申请日:20101125

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-11-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q10/04 申请日:20101125

    实质审查的生效

  • 2012-09-12

    公开

    公开

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