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一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法

摘要

本发明公开了一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法,属于测定方法,其具体参数要求为:(1)控制试样的表面粗糙度;在车制简单黄铜试样时,采用高速钢车刀,并控制每次进刀量小于0.2mm,使试样的粗糙度达到10μm以下;(2)在X射线荧光光谱仪器上,根据不同元素的被影响程度,计算出以下公式,并应用到仪器的运算中;Cu+Zn+其他元素=100%,Cu+Zn=99.88%,经过测量出的各元素的荧光强度,荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。与现有技术相比,本发明的提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法具有各元素的成分准确,准确度和精确度大大提高,人员的差异性得到减轻等特点,因而具有很好的推广应用价值。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-02

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N23/223 申请公布日:20120718 申请日:20120223

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20120223

    实质审查的生效

  • 2012-07-18

    公开

    公开

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