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通过选择伪距离测量值来实现对位置估计的校正的方法

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摘要

本发明的主题是一种用于校正位置估计的方法，通过使用伪距离ρ

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2014-05-07

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01S19/20 申请公布日:20120704 申请日:20110909

发明专利申请公布后的视为撤回
2012-07-04

公开

公开

1. 通过选择伪距离测量值来实现对位置估计的校正的方法 [P] . 中国专利： CN102540202A . 2012-07-04
2. 实现塞曼背景校正原子吸收的背景值计算和显示的方法 [P] . 中国专利： CN102141509B . 2012.10.24
3. METHOD FOR CORRECTING POSITION ESTIMATION BY SELECTING PSEUDO-DISTANCE MEASUREMENTS [P] . 法国专利： FR2964751A1 . 2012-03-16

机译：选择伪距离测量值校正位置估计的方法
4. METHOD FOR CORRECTING POSITION ESTIMATIONS BY SELECTING PSEUDO-DISTANCE MEASUREMENTS [P] . SG179372A1 . 2012-04-27

机译：通过选择伪距离测量来校正位置估计的方法
5. METHOD FOR CORRECTING POSITION ESTIMATIONS BY SELECTING PSEUDO-DISTANCE MEASUREMENTS [P] . CA2751939A1 . 2012-03-10

机译：通过选择伪距离测量来校正位置估计的方法