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校准X射线探测器的装置和方法、校准设备和X射线设备

摘要

本发明涉及用于借助X射线荧光辐射(6)能量地校准光子计数的X射线探测器(2,27)的一种装置(5)以及一种方法。所述装置(5)包括多种有针对性地选择的化学元素,其中的每个元素在利用电子或利用高能射线(4,28)进行照射时发射具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子,所述具有至少一个特定或特有能量的X射线荧光辐射(6)的光子被用于能量地校准光子计数的X射线探测器(2,27)。本发明还涉及具有这种装置(5)的一种校准设备(1)以及一种X射线设备(21)。

著录项

  • 公开/公告号CN102478661A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN201110365141.X

  • 发明设计人 E.克拉夫特;B.克里斯勒;

    申请日2011-11-17

  • 分类号G01T1/40;G01T1/29;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人谢强

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2023-12-18 05:21:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-06

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):G01T1/40 放弃生效日:20160106 申请日:20111117

    专利权的视为放弃

  • 2013-04-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/40 申请日:20111117

    实质审查的生效

  • 2012-05-30

    公开

    公开

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