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X射线照射下六氟化硫气体局部放电检测方法及其装置

摘要

X射线照射下六氟化硫气体局部放电检测方法及其装置,装置包括试验变压器(1)、GIS试验段(2)、高压引线(3)、套管(4)、绝缘缺陷(5)、高频X射线机(6)、X射线发射窗(7)、四角支架(8)、高频X射线机控制箱(9)、校验装置(10)、检测阻抗(11)、电缆(12)、采集装置(13)、电池电缆(14)、电池组(15)、光纤(16)、光纤控制器(17)、USB线(18)和便携脉冲电流工业电脑(19)、耦合电容(20)。本发明具有高效、无损、可视等显著优点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-01

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/12 申请公布日:20120613 申请日:20111202

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2012-07-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/12 申请日:20111202

    实质审查的生效

  • 2012-06-13

    公开

    公开

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