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一种聚酰亚胺基底上覆阻挡层的铝垫制造工艺

摘要

本发明涉及一种半导体制备技术领域,更确切的说,本发明涉及一种聚酰亚胺基底上覆阻挡层的铝垫制造工艺。在已生长有铝层并用聚酰亚胺作为基底的晶片上沉积绝缘阻挡层并使用光刻工艺将原金属区域上方的绝缘阻挡层去除;随后在所得的晶片上方沉积重分布铝层并光刻形成新的铝线和铝垫;然后在所得的晶片上方旋涂第二层聚酰亚胺;最终将形成的铝垫上方的第二层聚酰亚胺去除。本发明提高晶片良率,使晶片的聚酰亚胺层保留完整,降低了分层剥落的可能性,提高了芯片的可封装性能。

著录项

  • 公开/公告号CN102412143A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-04-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201110133618.1

  • 发明设计人 张亮;胡友存;陈玉文;李磊;姬峰;

    申请日2011-05-23

  • 分类号H01L21/316;H01L21/311;H01L21/3213;G03F7/42;

  • 代理机构上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人王敏杰

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号

  • 入库时间 2023-12-18 04:59:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/316 申请公布日:20120411 申请日:20110523

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2012-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/316 申请日:20110523

    实质审查的生效

  • 2012-04-11

    公开

    公开

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