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在利用散射辐射的条件下X射线成像的方法

摘要

本发明涉及用于X射线成像的一种方法及一种装置。在该方法中,利用一个或多个按照时间上的间隔相继跟随的X射线脉冲对对象(8)进行透视。利用具有探测器元件的二维布置的X射线探测器(9)、在与透视方向不同的方向上时间和位置分辨地记录在对象的体积元素上散射的X射线。通过X射线脉冲的波前的已知的几何形状和传播,从位置和时间分辨的测量数据中重建对象(8)的三维散射分布的图像数据组。该方法使得可以利用仅一个X射线脉冲建立三维散射分布的图像数据组并且由此可以非常简单地进行。

著录项

  • 公开/公告号CN102271585A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN200980153382.9

  • 发明设计人 奥利弗.海德;

    申请日2009-11-06

  • 分类号A61B6/00;G01N23/223;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人谢强

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2023-12-18 03:55:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):A61B6/00 申请公布日:20111207 申请日:20091106

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-01-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/00 申请日:20091106

    实质审查的生效

  • 2011-12-07

    公开

    公开

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