测试垫结构、晶片封装结构、以及测试垫结构制作方法和晶片封装结构制作方法

摘要

本发明提供一种用以测试晶片的测试垫结构以及该测试垫结构的制作方法，该测试垫结构包含金属测试垫以及第一凹槽，其中，该第一凹槽设置于该金属测试垫上。该第一凹槽位于该晶片的第一信号线以及第二信号线之间，由此阻隔该第一信号线以及该第二信号线，使该第一信号线以及该第二信号线不至于短路。本发明还提供了一种晶片封装结构和该晶片封装结构的制作方法。