自保持模拟芯核测试外壳

摘要

本发明公开了电子信息技术片上系统设计技术领域中的一种自保持模拟芯核测试外壳。包括模拟测试输入激励通路、自保持模拟测试接口、测试控制器、输出模拟开关、模拟测试响应输出通路。模拟测试输入激励通路与自保持模拟测试接口相连，自保持模拟测试接口与测试控制器相连，测试控制器与输出模拟开关相连，输出模拟开关与模拟测试响应输出通路相连；自保持模拟测试接口和输出模拟开关分别与模拟芯核相连。本发明实现了复用单个DAC和ADC多端口的模拟测试激励施加和测试响应分析。