双精度SIMD部件芯片级验证测试激励自动生成方法

摘要

本发明公开了一种双精度SIMD部件芯片级验证测试激励自动生成方法，目的是提出一种自动生成双精度SIMD部件芯片级验证测试激励的方法。技术方案为：先根据所要验证的双精度数据运算类型以及数组长度scale，构造进行双精度数组操作的标准C语言程序foo.c，然后基于foo.c以及所要验证的运算，构造作为测试激励的汇编语言源程序simd.s。采用本发明可以自动生成一个汇编语言测试激励simd.s，将simd.s加载到芯片模拟环境中运行，可以执行双精度SIMD指令对处理器的设计进行芯片级验证。本发明可以编程实现，多次运行该程序，输入不同的运算类型和数组长度，即可自动生成多种测试激励，可以极大地减少开发面向双精度SIMD部件进行芯片级验证所需的测试激励的时间。