LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具

摘要

本发明涉及一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具，其测试方法如下：依次将该些待测试样品的液晶面板分别固定于固定底座上，往复摆动PWB上端部若干次，后检测LCM半成品的IC引脚是否完好及有无电气类不良，并记录数据，通过对LCM半成品的IC抗弯折能力测试，以比较不同厂商及型号IC间的抗弯折能力差异，从而选择IC引脚抗弯折能力较强的产品进行生产，提升LCM品质。另外，本发明的IC弯折治具结构简单、造价低廉并且操作方便。

说明书

技术领域

本发明涉及一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具。

背景技术

LCM模组在进行机械振动信赖性测试时易发生IC引脚弯折、拉扯而产生亮线等不良，为此在新产品导入或新型号IC导入阶段，需对所选用的IC进行引脚的抗弯折能力测试，比较出不同厂商生产的IC的抗弯折能力的差异性，藉以选取弯折能力相对较强的IC进行LCM组装生产。目前尚没有针对组成LCM模组半成品后IC的抗弯折能力测试方法。

发明内容

本发明介绍了一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具，可弥补LCM半成品的缺少IC抗弯折能力的空白，本发明有利于在新产品或已量产产品中选用抗弯折能力较强的IC进行生产，避免在后续信赖性或客户端发生品质问题。

本发明的技术方案在于：一种LCM模组半成品IC弯折能力测试方法，所述LCM模组半成品包括液晶面板、IC和PWB，其特征在于，其测试方法如下：在带有不同型号或不同厂商生产的IC的LCM模组半成品中，分别选取IC引脚完好及无电气类不良的LCM模组半成品为待测试样品；依次将该些待测试样品的液晶面板分别固定于固定底座上，往复摆动PWB上端部若干次，后检测LCM半成品的IC引脚是否完好及有无电气类不良，并记录数据。

本发明的另一技术方案在于：一种IC弯折治具，包括固定底座，其特征在于：所述固定底座上设置有液晶面板插槽，所述固定机座上设有具有转轴通孔和转轴的摆动柱体，所述柱体底侧设有PWB插槽，所述转轴的外侧端设置有转柄，其内侧端穿过连接在固定底座上的带有圆弧通孔的支撑板，所述转轴伸出端固定连接有可随转轴做圆弧运动的活动齿轮，所述支撑板外侧面固定设置有与活动齿轮配合的大齿轮。

上述转轴的外侧端设置有一转盘，所述转柄安装在转盘上。

上述圆弧通孔与大齿轮同轴，以实现转轴在转柄的驱动下做圆弧运动。

本发明弥补LCM半成品的缺少IC抗弯折能力的空白，通过测试可以得到LCM半成品的IC抗弯折能力值，比较出不同型号IC的抗弯折能力，以优先选择弯折能力较强的IC进行生产，提升LCM模组品质，避免在后续信赖性或客户端发生的品质问题。

附图说明

图1为本发明实施例的构造示意图。

图2为图1中的A—A剖视图。

图3为图１中的Ｂ向视图。

图中：1为固定底座，2为液晶面板插槽，3为转轴，4为摆动柱体，5为转柄，6为圆弧通孔，7为支撑板，8为活动齿轮；9为大齿轮；10为转盘；11为液晶面板，12为IC，13为PWB。

具体实施方式

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下。

本发明的LCM模组半成品IC弯折能力测试方法，所述LCM模组半成品包括液晶面板、IC和PWB，其特征在于，其测试方法如下：

（1）在带有不同型号或不同厂商生产的IC的LCM模组半成品中，分别选取IC引脚完好及无电气类不良的LCM模组半成品为待测试样品，每个型号选3件。这里要说明的是该LCM模组半成品为液晶面板、IC和PWB的组合件，选取的方法为：先在点灯机台上确认无亮线或画面异常等电气类不良，然后将上述待测试样品置于电子显微镜MM-60下观察IC与液晶面板接合位置的引脚状况。

（2）将该些待测试的LCM半成品固定于IC弯折治具上，LCM半成品的液晶面板固定在固定底板的液晶面板固定插槽内，并将PWB的上端部固定在主体的插槽内，使得IC在PWB和液晶面板间呈拉直的状态，然后转动转柄，使PWB沿圆弧通孔做竖直方向的±90度角摆动，以达到弯折IC引脚的目的，这里要说明的是，摆动的角度可以选取其他角度，并不限定在上述所选的竖直方向的±90度角。

（3）分别将该些LCM半成品弯折10次后取下，置于电子显微镜下观察LCM半成品各IC引脚是否已经折断或有弯折痕迹，然后再点灯确认是否有发生亮线、画面异常等电气类不良，并记录测试结果。

（4）重复进行上述步骤（2）和（3），直至IC引脚发生折断且点灯发生亮线或画面异常等电气类不良为止，并记录IC弯折的次数，每种型号的IC做3次，以平均值计算最终IC的IC抗弯折次数。

本发明的IC弯折治具，包括固定底座1，其特征在于：所述固定底座1上设置有液晶面板插槽2，所述固定机座1上设有具有转轴通孔和转轴3的摆动柱体4，所述柱体4底侧设有PWB插槽，所述转轴3的外侧端设置有转柄5，其内侧端穿过连接在固定底座1上的带有圆弧通孔6的支撑板7，所述转轴3伸出端固定连接有可随转轴3做圆弧运动的活动齿轮8，所述支撑板8外侧面固定设置有与活动齿轮8配合的大齿轮9。

上述转轴3的外侧端设置有一转盘10，所述转柄5安装在转盘10上。

上述圆弧通孔6与大齿轮9同轴，以实现转轴3在转柄5的驱动下做圆弧运动。

本发明不局限上述最佳实施方式，任何人在本发明的启示下都可以得出其他各种形式的LCM模组半成品IC弯折能力测试方法及IC弯折治具。凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。