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具有埋置绝缘层下第二控制栅极的SeOI闪存存储单元

摘要

本发明公开了一种具有埋置绝缘层下第二控制栅极的SeOI闪存存储单元。第一方案涉及一种闪存存储器单元,包括具有浮动栅极的FET晶体管,所述浮动栅极在绝缘体上半导体衬底上,所述绝缘体上半导体衬底包括通过绝缘层与基层衬底隔开的半导体材料的薄膜,所述晶体管在所述薄膜中具有沟道,其特征在于所述存储器单元包括两个控制栅极,前控制栅极布置在浮动栅极上方并通过栅极间介电层与浮动栅极隔开,背控制栅极布置在基层衬底内直接在绝缘层下面,从而仅通过绝缘层与沟道隔开,该两个控制栅极设计为组合使用来执行单元编程操作。本发明还扩展到一种包括多个根据本发明的第一方案的存储器单元的存储器阵列,及一种构造这种存储器单元的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN102088028A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司;

    申请/专利号CN201010540988.2

  • 发明设计人 C·马聚尔;R·费朗;

    申请日2010-11-08

  • 分类号H01L29/423;H01L29/788;H01L27/115;G11C16/06;H01L21/8247;

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 法国贝尔尼

  • 入库时间 2023-12-18 02:34:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-08

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/423 申请日:20101108

    实质审查的生效

  • 2011-06-08

    公开

    公开

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