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一种高性能多层薄膜结构声表面波器件的制备方法

摘要

一种高性能多层薄膜结构声表面波器件的制备方法,其衬底为化学汽相沉积CVD金刚石薄膜,在CVD金刚石薄膜衬底表面形成有一层六方氮化硼h-BN薄膜,该薄膜采用真空溅射法沉积,其衬底为镜面抛光硅衬底,晶面指数为100,真空溅射室的本底真空度为5×10-4Pa,溅射所用靶材是纯度为99.99%的热压h-BN,其中所述纯度为99.99%的热压h-BN的制备步骤是:先沉积富B的氮化硼底层,然后衬底负偏压值由0变为-100V,最后在保持工艺条件不变延续溅射沉积时间为80分钟。本发明的优点是:与现有技术相比,该制备方法所用设备简单、工艺条件方便易行,有利于大规模的推广应用,具有重大的生产实践意义。

著录项

  • 公开/公告号CN102094178A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津理工大学;

    申请/专利号CN201010573618.9

  • 申请日2010-12-03

  • 分类号C23C14/35(20060101);C23C14/06(20060101);C23C14/02(20060101);

  • 代理机构12002 天津佳盟知识产权代理有限公司;

  • 代理人侯力

  • 地址 300384 天津市南开区红旗南路延长线天津理工大学主校区

  • 入库时间 2023-12-18 02:26:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-12-19

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C23C14/35 申请公布日:20110615 申请日:20101203

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/35 申请日:20101203

    实质审查的生效

  • 2011-06-15

    公开

    公开

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