法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-10-10
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01L1/24 申请公布日:20110420 申请日:20101010
发明专利申请公布后的视为撤回
2011-07-20
实质审查的生效 IPC(主分类):G01L1/24 申请日:20101010
实质审查的生效
2011-04-20
公开
公开
机译: 薄膜应力的测量方法,以及制造用于应力测量的测试件的方法和装置
机译: 阵列基板,薄膜应力测量方法和显示面板
机译: X射线衍射系统的四点弯曲装置和使用该装置的薄膜应力-应变曲线的测量方法