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封装材料热导率测试仪

摘要

本发明涉及一种封装材料热导率测试仪。它包括:加载机构、加热机构、冷却机构和实时测量机构等四部分。加热量块和冷却量块均用绝热材料包住,加热方式采用柔性加热片,冷却方式采用冷水循环机构。加载机构采用滚珠丝杆连接,将手轮的螺旋传动转化为加热机构的直线运动。实时测量机构通过夹具与加热机构连接。热导率测试装置一端的加热机构通过夹具与机座上的直线轴承连接;另一端冷却机构固定在力学传感器上,力学传感器与机座底固定连接,并通过支撑杆将上下两个加热机构与冷却机构支撑起来。本发明结构设计模块化,操作方便、实用、成本低,可用于电子封装材料、科研教学等领域。

著录项

  • 公开/公告号CN101957333A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-01-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201010227610.7

  • 发明设计人 廖芃;张建华;华子恺;

    申请日2010-07-15

  • 分类号G01N25/20(20060101);G01B5/06(20060101);

  • 代理机构上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人何文欣

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-12-18 01:35:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-04-03

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N25/20 申请公布日:20110126 申请日:20100715

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/20 申请日:20100715

    实质审查的生效

  • 2011-01-26

    公开

    公开

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