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提高元件测试准确率的测试装置、测试系统及测试方法

摘要

本发明是有关一种提高元件测试准确率的测试装置、测试系统及测试方法。该测试装置包含:一测试流程模块及一干扰接收模块,其中该测试流程模块根据元件测试结果与该干扰信号判断干扰信号是否影响元件测试结果。该测试系统,包含:一测试机台、一测试介面及一干扰接收模块,该干扰接收模块接收量测电磁干扰,其中该测试机台根据元件测试结果与该干扰信号判断干扰信号是否影响元件测试结果。该测试方法,包含:a.执行元件测试及干扰量测;b.判断元件是否通过测试;c.若元件未通过测试,则检查判断干扰量测值是否超过预设标准值;d.若干扰量测值超过预设标准值则重新执行步骤a至c;及e.若元件测试仍未通过测试且干扰量测值仍超过预设标准值则停止测试。

著录项

  • 公开/公告号CN101871983A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京元电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200910137221.2

  • 发明设计人 王韦苹;柯宣仲;

    申请日2009-04-24

  • 分类号G01R31/00;

  • 代理机构北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2023-12-18 01:09:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-12

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/00 申请公布日:20101027 申请日:20090424

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-12-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20090424

    实质审查的生效

  • 2010-10-27

    公开

    公开

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