首页> 中国专利> 用于在半导体基板上分层淀积各种材料的装置,和在这种装置中使用的起模针

用于在半导体基板上分层淀积各种材料的装置,和在这种装置中使用的起模针

摘要

本发明涉及包括加工空间和若干个起模针(50)的淀积装置,在所述加工空间中设置有基板支承体,所述起模针可以移动到所述基板支承体的平面中以及从所述基板支承体的平面中移出,以辅助将半导体基板引入到所述加工空间中以及将该半导体基板从所述加工空间中去除。所述装置的特征在于,所述起模针(50)的要与所述半导体基板和/或所述基板支承体相接触的接触表面(52)设置有以下材料层(54),所述材料层具有比所述半导体基板和/或所述基板支承体更低的硬度。这消除了作为当将所述半导体基板从所述基板支承体(基座)升起以及降落到所述基板支承体上的时候所述半导体基板被不希望地移位的结果而对所述半导体基板和/或所述基板支承体造成损伤的风险。因而,不存在形成划痕和释放微粒的风险,形成划痕和释放微粒很可能不利地影响到半导体制造处理。

著录项

  • 公开/公告号CN101878323A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 齐卡博制陶业有限公司;

    申请/专利号CN200880118253.1

  • 申请日2008-09-19

  • 分类号C23C16/458(20060101);H01L21/687(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人陈华成

  • 地址 荷兰海尔蒙德

  • 入库时间 2023-12-18 01:00:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-02

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C23C16/458 申请公布日:20101103 申请日:20080919

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2011-01-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C16/458 申请日:20080919

    实质审查的生效

  • 2010-11-03

    公开

    公开

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