基于ARM核芯片的数模转换器自动测试系统及其方法

摘要

本发明涉及一种基于ARM核芯片的数模转换器自动测试系统及方法，系统包括电压测量装置、测试主机、ARM仿真器、ARM核芯片和FPGA模块，测试主机依次通过ARM仿真器、ARM核芯片、FPGA模块和被测数模转换器与电压测量装置连接。方法包括将FPGA逻辑代码烧入FPGA模块、在测试主机中存入测试代码、ARM核芯片运行测试代码并向被测数模转换器输入测试数字信号序列、记录电压测量装置测得的各组模拟电压输出值、进行后续数模转换器性能指标计算。采用该种基于ARM核芯片的数模转换器自动测试系统及方法，不容易出错，提高了测试效率，节约了测试时间，灵活性很强，具有广泛的适应性，可移植性好，结构简单实用，使用方便快捷，工作性能稳定可靠，适用范围较为广泛。