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反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置

摘要

本发明提供一种反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置。从光源(21)的光中取出直线偏振分量的光,以使该光的光轴(B)成为与反射型液晶盒(23)的法线倾斜的角度(θ)的方式,对反射型液晶盒(23)照射该偏振分量的光,根据被反射型液晶盒(23)的反射层(23a)反射的光的与偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度,求出光强度反射率(Rc),使用该光强度反射率(Rc)、液晶的正常光折射率(no)及异常光折射率(ne)、角度(θ)、液晶的厚度(d)、以及反射层(23a)的折射率(nr),求出液晶的倾角(β)。能够对反射型液晶盒的倾角进行测定。

著录项

  • 公开/公告号CN101825785A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大塚电子株式会社;

    申请/专利号CN201010128709.1

  • 发明设计人 杉田一纮;

    申请日2010-03-03

  • 分类号G02F1/13(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人王永刚

  • 地址 日本大阪

  • 入库时间 2023-12-18 00:44:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02F1/13 申请公布日:20100908 申请日:20100303

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-03-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/13 申请日:20100303

    实质审查的生效

  • 2010-09-08

    公开

    公开

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