辐射诱发基因组不稳定性的检测方法

摘要

本发明涉及基因组的检测方法，特别是涉及辐射诱发基因组不稳定性的检测方法。本发明所述的检测方法，先给予细胞首次照射，并测定其SCGE与微核发生率，然后对受照后存活的各剂量点的细胞传25代后，测定SCGE与微核发生率，然后对受照后存活的各剂量点的第26或以后的传代细胞进行二次照射，再次测定SCGE结果与微核发生率，通过比较SCGE与微核发生率，即可明显看出二次照射可以诱发基因组不稳定性，细胞表现出明显的扩大损伤效应。采用本发明所述的方法，可以直接检测到基因组不稳定性，克服了传统的直接检测所需观察时间长和发生率太低难以在常规实验条件观察到基因组不稳定性的缺点。