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带有RF模块的集成电路、具有这种IC的电子设备和用于测试这种模块的方法

摘要

本发明公开了包括用于在集成电路(200)的正常工作期间处理射频(RF)信号的模块(130)在内的集成电路。IC(200)具有芯片上测试装置,用于在测试模式下产生用来对模块(130)进行测试的精确的RF测试信号。为此,测试装置包括用于在测试模式下产生射频控制信号的信号源(210);以及串联的互补晶体管对(230),所述对耦合在第一电源轨和第二电源轨之间,并用于响应提供到其控制端子的所述射频控制信号,在其输出上产生所述射频测试信号。本发明基于如果向晶体管对提供足够稳定的电源电压,可强制该对在其输出处生成在RF频率处精确的轨到轨电压摆动。该输出信号可被用来以高精确度测试RF模块(130),从而省去了使用昂贵的外部测试设备的必要。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-08-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/28 申请公布日:20100721 申请日:20080814

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-09-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20080814

    实质审查的生效

  • 2010-07-21

    公开

    公开

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