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Innovatives Applikationsmodul für den digitalen IC-Test: Kostengünstiger SoC-Test

机译:用于数字IC测试的创新应用模块:具有成本效益的SoC测试

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摘要

Advantest bietet mit der T2000-Testsystemserie eine umfassende Palette von Highend- und Mid-Range-Testlösungen für SoC-Consumer-Bauteile an. Die neuste Produktinnovation der Openstar-konformen T2000-Testsysteme Familie, zu der auch das im Juni 2007 vorgestellte T2000 LS System gehört, ist die kompakte T2000 GS-Testlösung mit innovativen Design mit dem 250 MDMA digitalen Testmodul, bei- des zusammen ermöglicht den parallelen Test von SoC-Bauteilen mit niedrigen Pinzahlen.
机译:借助T2000测试系统系列,Advantest为SoC消费类产品提供了全面的高端和中档测试解决方案。符合Openstar的T2000测试系统家族的最新产品创新,其中还包括2007年6月推出的T2000 LS系统,它是紧凑的T2000 GS测试解决方案,其创新设计带有250 MDMA数字测试模块,这些模块共同支持并行测试低引脚数的SoC组件的数量。

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  • 来源
    《Productronic》 |2008年第2期|p.49|共1页
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  • 正文语种 ger
  • 中图分类 电工技术;
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