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使用羰基原料的金属膜的成膜方法、多层配线构造的形成方法、半导体装置的制造方法、成膜装置

摘要

本发明提供使用羰基原料的金属膜的成膜方法、多层配线构造的形成方法、半导体装置的制造方法、成膜装置,该成膜方法的特征在于,包括:第一工序,将金属元素的羰基原料以气相分子的形态与抑制上述气相分子的分解的气相成分一起供给至被处理基板表面,其中,将上述气相成分的分压设定为抑制上述羰基气相原料分子的分解的第一分压;和第二工序,使上述气相成分的分压在上述被处理基板表面变化为产生上述羰基原料的分解的第二分压,使上述金属元素沉积在上述被处理基板表面。

著录项

  • 公开/公告号CN101652836A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-02-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN200880010346.2

  • 发明设计人 原正道;波多野达夫;

    申请日2008-02-14

  • 分类号H01L21/285;H01L21/3205;H01L23/52;C23C16/16;

  • 代理机构北京尚诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人龙淳

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 23:31:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-11

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):H01L21/285 放弃生效日:20100217 申请日:20080214

    专利权的视为放弃

  • 2010-04-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/285 申请日:20080214

    实质审查的生效

  • 2010-02-17

    公开

    公开

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