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GaAs基InAs/GaSb超晶格红外光电探测器及其制作方法

摘要

本发明公开了一种GaAs基InAs/GaSb超晶格3至5微米波段红外光电探测器及其制作方法。该红外光电探测器由自下而上的GaAs衬底、GaAs缓冲层、AlSb成核层、GaSb下缓冲层、AlSb/GaSb超晶格层、GaSb上缓冲层、InAs/GaSb超晶格层、GaSb盖层和钛金合金电极构成。利用本发明,在GaAs衬底上生长出了高质量的GaSb缓冲层,并在该GaSb缓冲层上生长出了InAs/GaSb超晶格,进而能够制作出暗电流低,成本低廉的红外探测器。

著录项

  • 公开/公告号CN101562210A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-10-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN200810104243.4

  • 申请日2008-04-16

  • 分类号H01L31/111;H01L31/18;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-12-17 22:48:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-07-27

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L31/111 公开日:20091021 申请日:20080416

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-12-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-10-21

    公开

    公开

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