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深背景高陡度荧光滤光片的制造工艺

摘要

本发明属光学滤光片领域,尤其涉及一种深背景高陡度荧光滤光片的制造方法,其以低荧光效应玻璃为镀膜基片,运用离子辅助沉积法进行镀膜;在膜系处理中,其隔离陡度OD0.3到OD5的波长间隔小于10nm,半带宽为15nm~40nm。本发明采用标准的7至9腔带通膜系或单侧陡度极高的非对称型带通膜系。本发明在膜系处理中,其隔离陡度OD0.3到OD5的波长间隔为小于或等于9nm。本发明在荧光滤光片设计制造技术中,采用优化设计的膜系,隔离陡度能够达到OD0.3到OD5波长间隔小于10nm;采用平衡深度衰减测试技术,滤光片的测试背景深度可以达到OD7-8;改善薄膜散射,可以有效提高镀制薄膜的背景与陡度。

著录项

  • 公开/公告号CN101441288A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 沈阳仪表科学研究院;

    申请/专利号CN200710158392.4

  • 申请日2007-11-20

  • 分类号G02B5/20;C03C17/00;

  • 代理机构沈阳亚泰专利商标代理有限公司;

  • 代理人郭元艺

  • 地址 110001 辽宁省沈阳市大东区北海街242号

  • 入库时间 2023-12-17 21:57:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-03-20

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G02B5/20 申请公布日:20090527 申请日:20071120

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2010-12-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B5/20 申请日:20071120

    实质审查的生效

  • 2009-05-27

    公开

    公开

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