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防护薄膜组件及防护薄膜组件之制造方法

摘要

本发明的目的在于提供一种防护薄膜组件,其具备实用的EUV用防护薄膜,该薄膜具有优异的高透光性与化学安定性。本发明之防护薄膜组件10,使用对13.5nm波长的光的吸收系数在0.005/nm以下的硅结晶膜作为防护薄膜11。因为硅结晶膜是间接跃迁型的半导体膜,故光吸收系数相对比较低,特别是单结晶硅膜,跟非晶质硅膜或多结晶硅膜比较起来吸收系数更低,故能轻易满足EUV用防护薄膜所需要的透光率。该等防护薄膜可从薄膜化SOI基板(包含SOQ基板或SOG基板)所得到的SOI膜制得。若从SOI基板制得硅结晶膜的防护薄膜的话,在防护薄膜形成过程中不会受到过度的应力,而且是在室温程度的温度下形成防护薄膜,亦不至造成应变。

著录项

  • 公开/公告号CN101414118A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-04-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 信越化学工业株式会社;

    申请/专利号CN200810149932.7

  • 发明设计人 久保田芳宏;秋山昌次;进藤敏彦;

    申请日2008-10-17

  • 分类号G03F1/14(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 21:44:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-04-03

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G03F1/14 申请公布日:20090422 申请日:20081017

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2009-06-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-04-22

    公开

    公开

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