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显示器件的测试装置、测试方法以及具有测试装置的基板

摘要

本发明提供一种用于液晶显示装置的测试装置,该测试装置包括:阵列测试信号输入部,用以输入阵列测试信号;显示测试信号输入部,用以输入显示测试信号;显示测试信号控制部,用以控制显示测试信号的输入;测试总线,分别与阵列测试信号输入部和显示测试信号输入部相连,并且,当进行阵列测试时,显示测试信号控制部处于关闭状态。本发明还提供用于液晶显示装置的测试方法和基板。通过本发明可不需要增加额外的治工具或设备而实现阵列测试和显示测试的兼容。从而提高生产效率,并且节约生产成本。

著录项

  • 公开/公告号CN101344650A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海天马微电子有限公司;

    申请/专利号CN200710043664.6

  • 发明设计人 蒋顺;李治福;

    申请日2007-07-11

  • 分类号G02F1/13;H01L21/66;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201201 上海市浦东新区汇庆路889号

  • 入库时间 2023-12-17 21:19:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-06-20

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02F1/13 公开日:20090114 申请日:20070711

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-06-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-14

    公开

    公开

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