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连续测量金属-绝缘体转变元件的突变的金属绝缘体转变的电路以及利用此电路的金属-绝缘体转变传感器

摘要

提供一种用于连续测量金属-绝缘体转变(MIT)元件的突变MIT的电路以及利用该电路的MIT传感器。所述电路包括:被测量对象单元,包括具有在转变电压处发生突变MIT的MIT元件;供电单元,施加预定的脉冲电流或电压信号给被测量对象单元;测量单元,测量MIT元件的突变MIT;以及微处理器,控制供电单元和测量单元。突变MIT测量电路连续地测量MIT元件的突变MIT,因此能够将其用作感知外部因素变化的传感器。

著录项

  • 公开/公告号CN101512351B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-11-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 韩国电子通信研究院;

    申请/专利号CN200780033295.0

  • 申请日2007-07-05

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人钱大勇

  • 地址 韩国大田市

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-11-28

    授权

    授权

  • 2009-10-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-19

    公开

    公开

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