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增加等离子体增强化学气相沉积电介质薄膜压应力的方法

摘要

本发明提供一种用于形成具有压应力的碳掺杂氮化硅层的方法。该方法包括形成初始层和该初始层上的体层,其中体层的压应力在大约-0.1GPa至约-10GPa之间。初始层由包括含硅和碳的前驱物以及选择性地包括氮和/或氧源但不包括氢气的气体混合物沉积。体层由包括含硅和碳的前驱物、氮源以及氢气的气体混合物沉积。初始层是允许体层的压应力良好地通过传输到底层的薄层,例如晶体管的沟道。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-01-26

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):C23C16/505 公开日:20080625 申请日:20071029

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-08-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-25

    公开

    公开

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