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测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法

摘要

本发明属于光电子学和测量技术领域,是一种测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法。本发明的装置,包括:双频塞曼激光器,λ/4波片,分束器,检偏器,光电探测器,信号处理部分。测试时,以光轴为轴转动被测液晶器件4,当被测液晶器件的转角为0度、60度和180度时,记录信号处理部分9得到的相位差Ψ

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-01-13

    发明专利申请公布后的驳回

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2008-06-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-30

    公开

    公开

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