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液晶器件扭曲角与光延迟的光学外差法测试技术理论研究

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摘要

将光学外差法应用于液晶器件扭曲角与光延迟的测试, 提出了测试系统的光路简图,推导出了外差式测试方程,并对此方程进行了数值模拟与分析.此方法将液晶层的相位差转化为光学拍频信号的相位,由传统方法的测量光强转为测量拍频信号的相位差,能克服传统方法的缺点,因此具有较高的精度与抗干扰性.

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来源
《液晶与显示》 |2006年第5期|545-549|共5页
作者
陆云涛; 于涛;
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作者单位

中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,北方液晶工程研究开发中心,吉林,长春,130031;

中国科学院,研究生院,北京,100039;

大连海事大学,光电子技术研究所,辽宁,大连,116026;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类显示技术;液晶显示器件;
关键词
液晶显示; 参数测试; 扭曲角; 光延迟; 光学外差法;

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